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Intern
    Wilhelm Conrad Röntgen Research Center for Complex Material Systems

    High-Resolution X-Ray Diffractometer (HR-XRD)

    Applications

    • High resolution X-raydiffraction:
      • Analysis of out of plane latticeconstant
      • Crystallinequalityofthe sample
      • Strainanalysis
    • X-rayReflectometrie:
      • Determination of film thickness
      • Surfaceandinterfaceroughness
    • Graciningincidence x-raydiffraction:
      • Analysis of in plane latticeconstant
      • Fast reciprocalspacemapping
    • Temperaturedependentmeasurements:
      • Analysis ofstructuralphasetransitions

    Specifications

    • Primary side:
      • X-raysource: Cuceramictube, output 2.2 kW; parallel beam by Göbel mirror
      • Monochromators: 2 bounceGe (220a) beamdivergence: 0.0085°; 2 bounceGe (004a) beamdivergence: 0.0045°; 4 bounceGe (220s) beamdivergence: 0.0033°
      • Horizontal Goniometer:
        • Theta axis: usable angle range -4° to 170°
        • Smalleststepsize: 0.0001°
        • Chi axis: useable angle range: - 11° - 98°
        • Phi axis: unlimited
      • Sample stage:
        • x,y: - 40 – 40 mm; z: 2 mm (expandableupto 40 mm)
        • Sampleweightrestrictedto 1 kg
    • Secondary side:
      • Scintillationcounter: max. 2x106cps
      • 0D/1D detector (Lynxeye):
        • Detectorwindow: 3° of 2 Theta
      • Adjustableopticpath: variable slit; 3 bounceGe(022) analysercrystal
      • Various sample stages:
        • Vacuumstage 
        • Tiltstage with twodegreesoffreedom: ± 7°; steps:0.01°
        • Temperaturestage: -100°C to 350°C at p = 10-2 to 1300 mbar

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    Kontakt

    Wilhelm-Conrad-Röntgen-Forschungszentrum für komplexe Materialsysteme

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